能量色散型X熒光儀光譜儀 地質(zhì)勘探分析儀 參考價(jià)：面議
能量色散型X熒光儀光譜儀 地質(zhì)勘探分析儀：可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個(gè)過程，追蹤礦化異常，擴(kuò)展勘查范圍
礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀 參考價(jià)：面議
礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。
便攜式地質(zhì)勘探分析儀 參考價(jià)：面議
便攜式地質(zhì)勘探分析儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、海洋勘探、礦山測(cè)繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。
地礦行業(yè)地質(zhì)勘探分析 參考價(jià)：面議
地礦行業(yè)地質(zhì)勘探分析用于地質(zhì)調(diào)查、礦產(chǎn)普查與勘探、工程地質(zhì)、巖土工程過程中巖石礦物元素分析。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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